Tester schede madri iPhone 17
Il tester schede madri iPhone 17 Mijing C25 è un dispositivo a strati progettato per controllare diverse funzioni senza saldare la scheda. Permette di verificare avvio, display, touch, fotocamera, registrazione, flash, suonerie, Wi-Fi, Face ID e segnale, aiutando a individuare problemi prima di procedere con l’installazione.
Caratteristiche principali
- Consente test senza saldatura della scheda madre.
- Verifica avvio, display e touch.
- Supporta controlli di fotocamera, registrazione, flash e suonerie.
- Permette di testare Wi-Fi, Face ID e segnale.
- Il design con foro sul retro riserva spazio per i test.
- La sonda di test è descritta come migliorata.
- La struttura è indicata come resistente alla corrosione e all’usura.
Dati tecnici
- Marca: Mijing
- Modello: C25
- Compatibilità: iPhone 17, iPhone 17 Pro, iPhone 17 Pro Max, iPhone Air
- Dimensioni prodotto: 13 × 11 × 3 cm
- Peso prodotto: 0,30 kg
Compatibilità
iPhone 17, iPhone 17 Pro, iPhone 17 Pro Max, iPhone Air
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